Spektroskopia XPS (X-ray Photoelectron Spectroscopy) oraz UPS (Ultraviolet Photoelectron Spectroscopy) to zaawansowane techniki analityczne, które pozwalają na precyzyjne badanie składu chemicznego i struktury elektronowej materiałów. Dzięki tym metodom jesteśmy w stanie uzyskać szczegółowe informacje o składzie elementarnym powierzchni, stopniu utlenienia oraz właściwościach chemicznych warstw.
Pomiary XPS/UPS wykorzystywane są do analizy cienkowarstwowych powłok, materiałów półprzewodnikowych oraz w badaniach nanomateriałów, wspierając rozwój nowych technologii i optymalizację procesów przemysłowych.
Szczegóły:
• EA15 UHV Hemispherical Energy Analyzer
• Monochromatyczne źródło promieni rentgenowskich AlKα i AgLα o dużej mocy
• Niemonochromatyczne źródło promieni rentgenowskich AlKα i MgKα
• Niemonochromatyczne źródło UV
• Źródło elektronów do neutralizacji ładunku próbki
• Źródło jonów do profilowania głębokości i trawienia powierzchni
• Różne rozmiary nośników próbek: od 10×10 mm do 1 cala
• Zmotoryzowany manipulator 4-osiowy
