Dokładny pomiar grubości warstwy to kluczowy element kontroli jakości i optymalizacji procesów produkcyjnych. Oferujemy specjalistyczne pomiary cienkich warstw przy użyciu zaawansowanych technik, które pozwalają na precyzyjne określenie grubości powłok o różnorodnych właściwościach fizycznych i chemicznych.
Nasze metody pomiarowe zapewniają wysoką dokładność niezależnie od rodzaju materiału czy technologii osadzania. Dzięki temu możliwe jest utrzymanie spójnych parametrów produkcji, poprawa jakości końcowego produktu oraz szybkie wykrywanie ewentualnych nieprawidłowości.
Specyfikacja profilometru:
• Zakres grubości, WLI: 50 nm - 10 mm
• Zakres grubości, PSI: 0 - 3 m
• Zakres osi Z: 37 mm
• Zakres stolika X-Y: 100 mm na 100 mm
• Stolik z napędem silnikowym
